There was a problem with the connection!

NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database (SRD 20), Version 5.0

Matches from Scientific Citation:
Scientific Citation
Laoharojanaphand P., Lin T.J., Stoffer J.O., J. Appl. Polymer Sci. 40, 369 (1990)DOI:

Instruction:Total Records:   20
Element
 
Atomic No
 
Formula
 
Spectral Line
 
Energy (eV)
 
Details
 
C 6 (-CH2CH(Si(OCH3)3)-)n 1s 284.80
C 6 (-CH2CH(Si(OCH3)3)-)n 1s 286.90
Si 14 (-CH2CH(Si(OCH3)3)-)n 2p 101.10
Si 14 (-CH2CH(Si(OCH3)3)-)n 2p 102.40
Si 14 (-CH2CH(Si(OCH3)3)-)n 2p 103.50
C 6 (-CH2C((CH3)C(O)O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 1s 284.80
C 6 (-CH2C((CH3)C(O)O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 1s 286.60
C 6 (-CH2C((CH3)C(O)O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 1s 288.10
Si 14 (-CH2C((CH3)C(O)O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 2p 101.10
Si 14 (-CH2C((CH3)C(O)O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 2p 102.40
Si 14 (-CH2C((CH3)C(O)O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 2p 103.50
C 6 (-CH2C(CH3)(C(O)OCH3)-)n 1s 284.80
C 6 (-CH2C(CH3)(C(O)OCH3)-)n 1s 286.80
C 6 (-CH2C(CH3)(C(O)OCH3)-)n 1s 288.40
C 6 (-OCH2CH(CH2O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 1s 286.80
C 6 (-OCH2CH(CH2O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 1s 286.70
C 6 (-OCH2CH(CH2O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 1s 288.10
Si 14 (-OCH2CH(CH2O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 2p 101.10
Si 14 (-OCH2CH(CH2O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 2p 102.40
Si 14 (-OCH2CH(CH2O(CH2)3Si(OCH3)3)-)n 2p 103.40
An error has occurred. This application may no longer respond until reloaded. Reload 🗙