NIST X-ray Photoelectron Spectroscopy Database

Click the column to sort in ascending or descending order.
Enter a string in the input box in the column header and press the enter to filter the search result in the selected column.
Click on the hyperlink in the column for more information.

Total Records: 538

Element

Atomic No

Formula

Spectral Line

Energy (eV)

Details

(^-CH₂CH(C₆H₄Br)^-)n

3d_5/2

70.50

(^-CH₂CH(OH)^-)n

532.74

(^-CH₂CH(C(O)OCH₃)^-)n

533.69

(^-CH₂CH(C(O)OCH₃)^-)n

289.04

(^-CH₂CH(C(O)OCH₃)^-)n

285.41

(^-CH₂CH(C(O)OCH₃)^-)n

532.21

(^-CH₂CH(C(O)OCH₃)^-)n

286.59

(^-CH₂CH(C₆H₄CH₂N(CH₃)₃(Cl))^-)n

2p_3/2

196.65

(^-CH₂CH(CH₂NH₃Cl)^-)n

2p_3/2

197.70

(^-C₆H₄S^-)n

2p_3/2

163.66

(^-CH₂CH(Cl)^-)n

2p_3/2

200.64

(^-C^-HCH₃) (partial unit)

2p_3/2

200.81

(^-CCl₂CH₂^-)n

2p_3/2

200.78

(^-PN^-(OC₆H₅)₂)n

2p_3/2

133.85

(Si(CH₃)(C₆H₅)^-O^-)n

2p_3/2

101.68

(^-CH₂((CH₂)₄)CH₂S(O)(O)^-)n

2p_3/2

167.64

(^-CH₂CHC(Cl)CH₂^-)n

2p_3/2

200.63

(^-CH₂C(CH₃)(C(O)OCH₂CH₂Cl)^-)n

2p_3/2

200.53

(^-Si(CH₃)₂O^-)n

2p_3/2

101.79

(^-C₆H₄OC₆H₄S(O)(O)^-)n

2p_3/2

167.57

(^-CH₂CH(C₆H₄Cl)^-)n

2p_3/2

200.50

(^-CH₂CH(C₆H₄S(O)(O)ONa)^-)n

2p_3/2

168.23

(^-CH₂CH(C₆H₄Cl)^-)n

2p_3/2

200.44

(^-CH₂CHCl^-) (partial unit)

2p_3/2

200.80

(^-CH₂CHSH^-)n

2p_3/2

163.50

(^-CH₂CH(C₆H₄Cl)^-)n

2p_3/2

200.53

(^-CH₂C(CH₃)(C(O)OCH₃)^-)n

533.77

(^-CH₂C(CH₃)(C(O)OH)^-)n

532.39

(^-CH₂C(CH₃)(C(O)OH)^-)n

533.78

(^-CH₂CH(OCH₂CH(CH₃)₂)^-)n

286.30

Photoelectron Line

285.00

Background Subtraction Method:

Peak Location Method:

Full Width at Half-maximum Intensity (eV):

Gaussian Width (eV):

Lorentzian Width (eV):

Use of X-ray Monochromator:

Anode Material:

X-ray Energy:

Overall Energy Resolution (eV):

Calibration:

Charge Reference:

Energy Scale Evaluation:

Comment: